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.. default-role:: math

Laboratorio 2, Diodos: Modelamiento y características
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En esta guía se realiza un primer acercamiento a los dispositivos
semiconductores mediante el estudio del comportamiento de diferentes
referencias de diodos ante escenarios de variación de frecuencia y temperatura
que modifiquen sus propiedades.

**Duración**: Dos semanas

Objetivos
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Objetivo general
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Determinar las características básicas de los diodos semiconductores como la
relación tensión-corriente, los tiempos de recuperación inversa y sus
aplicaciones según sus características.

Objetivos específicos
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* Obtener experimentalmente la curva característica del diodo en polarización directa.
* Determinar los parámetros del diodo asociados a su curva característica mediante medidas experimentales.
* Visualizar los tiempos de respuesta de diferentes tipos de diodos.

Instrumentos requeridos
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* Generador de señales.
* Osciloscopio de doble traza.
* 2 Multímetros.
* Dos sondas.
* Fuente Dual.
* Diodos 1N4001, 1N4148.
* Cautín

Preparación de la práctica
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Consulte las hojas de datos de los diodos 1N4001 y 1N4148 y verifique los
valores de referencia de tensión y temperatura, las curvas características de
`I_d` `vs` `V_d`, etc.

Tenga en cuenta los siguientes conceptos, realice cálculos, simulaciones y montajes.

Ecuación aproximada del diodo
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En la clase teórica se establecieron los principios necesarios para la
compresión del funcionamiento de la unión P-N, también se explicó la ecuación
aproximada :eq:`lab2-equacion-aproximada-del-diodo`, mediante la cual se describe el
comportamiento estático del diodo como función de variables físicas y
constructivas del mismo.

.. math:: I=I_s (e^{\frac{V_d}{\eta V_T}})
   :label: lab2-equacion-aproximada-del-diodo

En donde `I_s` es la corriente inversa de saturación, `\eta` es un parámetro
constante llamado coeficiente de emisión y siempre está en entre 1 y 2, `V_T`
es el llamado voltaje térmico y es igual a `KT/q`, en donde `K` es la constante
de Boltzman (`1.38 10^{-23} J/K`), T es la temperatura en grados Kelvin, y q es
la carga del electrón (`1.6*10^{-19} C`).

Tiempo de recuperación de un Diodo
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.. _lab2-fig-recuperacion-diodo:
.. figure:: ./img/tiempo-recuperacion-diodo.png
  :align: center

  Visualización del tiempo de recuperación de un diodo


* El tiempo de recuperación inversa (`t_{rr}`) es el tiempo que tarda el diodo
  en recuperar su función de corte después de haber estado en conducción, es
  decir, es el tiempo que tarda la señal en rectificarse tras el cruce por cero
  en el flanco negativo de la señal de entrada.
* Tiempo de almacenamiento (`t_s`): Es el tiempo que transcurre desde el paso
  por cero de la corriente hasta llegar al pico negativo.
* Tiempo de caída (`t_f`): Es el tiempo transcurrido desde el momento en que la
  corriente empieza a tender a cero, hasta el momento en que esta se anula
  totalmente. En la práctica se suele considerar hasta el instante en que la
  corriente alcanza `10\%` IR (Corriente inversa).
* El tiempo de recuperación inversa (`t_{rr}`): Es la suma de `t_s` y `t_f`.
  Los tiempos anteriormente descritos son ilustrados en la figura
  :numref:`lab2-fig-recuperacion-diodo`, donde `I_F` es la corriente en directo e
  `I_R` la corriente m\'axima en inverso.

Cálculos
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Para el circuito de la Figura :numref:`lab2-cir-caracterizacion-diodo`, calcule
`R_1` para que la corriente `I_D = Imax=55 mA`.

Simulaciones
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* Simule el circuito mostrado en la Figura
  :numref:`lab2-cir-caracterizacion-diodo` con cada diodo. Varíe la fuente de
  tensión DC entre 0 y 30 V realizando incrementos en la corriente que
  proporcionen una buena caracterización (justifique la elección del paso a
  paso). A partir de los resultados obtenidos construya la curva característica
  `I_d` `vs` `V_d`.

* A partir de la curva encontrada determine el valor de los parámetros `I_s`  y
  `\eta` para cada uno de los diodos y verifique que estos concuerdan con lo
  especificado en el modelo spice. Para ésto recuerde que la curva obtenida es
  un representación de la ecuación :eq:`lab2-equacion-aproximada-del-diodo`, por lo que deberá usar alguna
  herramienta de software que permita hallar una tendencia para una serie de
  datos y así obtener los valores de la función exponencial.

* Proceda a cambiar la temperatura dentro del ambiente del simulador. Registre
  los nuevos datos de `V_d` y de `I_d` para ambos diodos y proceda a realizar
  el paso anterior para éstos. Según la relación vista en la ecuación
  :eq:`lab2-equacion-aproximada-del-diodo` y en el comportamiento físico de los semiconductores, discuta si
  el cambio de voltaje y corriente en el diodo coincide con lo esperado
  teóricamente tras la variación de temperatura. Según el modelo ideal del
  diodo (`I_d>0`, `V_d=0`), ¿Considera que ante bajas temperaturas el diodo en
  el laboratorio funciona más cerca a este modelo?. Justifique su respuesta.
  Además de esto, ¿varió alguno de los valores de los parámetros `I_s`  y
  `\eta`?. Si se evidencia un cambio explique el porqué de éste.

* Simule el circuito de la Figura
  :numref:`lab2-cir-visualizacion-tiempo-recuperacion` con cada uno de los
  diodos solicitados (1N4001 y 1N4148), variando la frecuencia de la fuente al
  menos 10 veces. Obtenga y organice los tiempos de recuperación inversa, es
  decir, los tiempos que tarda la corriente en tender a 0 A cuando el diodo se
  polariza en inverso. Compare los resultados ante las diferentes frecuencias y
  con valor encontrado en las hojas de datos.

Montajes
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Teniendo presente los cálculos, implemente los circuitos de la figura
:numref:`lab2-cir-caracterizacion-diodo` y
:numref:`lab2-cir-visualizacion-tiempo-recuperacion` en protoboard.

.. _lab2-cir-caracterizacion-diodo:
.. figure:: ./img/caracterizacion-diodo.png
   :align: center

   Circuito para caracterización del diodo

.. _lab2-cir-visualizacion-tiempo-recuperacion:
.. figure:: ./img/visualizacion-tiempo-recuperacion.png
   :align: center

   Circuito para visualización del tiempo de recuperación inversa.

Práctica
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Caracterización del diodo
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La primera aproximación experimental está basada en la caracterización
del diodo a través de los parámetros intrínsecos de la misma.

* Variando lentamente, desde 0V, la tensión de la fuente DC en el circuito de
  la figura :numref:`lab2-cir-caracterizacion-diodo`, obtenga un buen número de
  parejas de valores (`V_d`, `I_d`) hasta llegar a `I = Imax` (corriente máxima
  dada por el diseño inicial, recuerde que este valor debe ser menor a 55 mA).

* Realice un gráfico en escala semi-logarítmica, en un papel milimetrado o en
  la herramienta computacional de su preferencia, ubicando la corriente en el
  eje logarítmico y la tensión en el eje decimal. Teniendo en cuenta que el
  resultado será una curva con comportamiento lineal, obtenga los parámetros de
  la ecuación `y = K*x + Y_0` de dicha curva. Se dará cuenta que con la gráfica
  será fácil obtener los valores `Y_0` y `K` y por lo tanto, calcular los
  parámetros `I_s` y `\eta` presentes en la ecuación característica.

* Acerque el cautín al diodo 1N4001 y observe su comportamiento ante
  variaciones de temperatura. Repita el procedimiento descrito anteriormente
  manteniendo, en lo posible, constante la distancia entre el diodo y el cautín
  (Lo más eficiente resulta tocar con él una de las patas del diodo). Con ayuda
  del cálculo de los parámetros `I_s` y `\eta`, halle cual es el valor de la
  temperatura percibida por el diodo.

Modelamiento del diodo
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Asumiendo que en su operación en directo el diodo puede ser reemplazado por una
fuente DC y su resistencia equivalente en directo, resulta importante describir
el procedimiento que puede llevar a representar el diodo en este modelo lineal.
Para llevar a cabo este proceso ejecute los siguientes pasos.


* Fijando el valor máximo de corriente (como un punto en el eje y) y voltaje
  máximo en el diodo (como un punto en el eje x) y trazando una recta entre
  estos puntos, estime la resistencia dinámica del diodo (Rd) y la
  tensión umbral (Vt) de polarización directa para ese punto, tal y como se
  describe en la :numref:`lab2-fig-curva-diodo-pol-dir`. Ejecute ésto para
  las dos curvas obtenidas.

* Compare los resultados con los valores consignados por el fabricante en la
  hoja de datos.
	

* Ahora, discuta respondiendo las siguientes preguntas: 

  * ¿Por qué se puede considerar esto un modelo lineal del funcionamiento en
    directo del diodo?

  * ¿Los parámetros obtenidos para las dos curvas se diferencian en algo?,
    ¿Cuál es la explicación de las diferencias?.

  * ¿qué pasaría si se tomara un punto medio en la curva para el
    procedimiento realizado en lugar del punto de intersección?, ¿Cómo
    cambiarían los valores de `V_t` y `R_d`?

* Realice el mismo procedimiento para hallar los parámetros `I_s` y `\eta` del
  diodo utilizado en las simulaciones. Compare dichos valores con los obtenidos
  en la prueba experimental.

	
.. _lab2-fig-curva-diodo-pol-dir:
.. figure:: ./img/curva-caracteristica-pol-directa-diodo.png
  :align: center

  Curva característica del diodo en polarización directa (azul), recta de carga
  y punto de polarización para el cálculo de resistencia dinámica.

Tiempo de recuperación en inversa
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* Implemente el circuito de la Figura
  :numref:`lab2-cir-visualizacion-tiempo-recuperacion` asumiendo que la fuente
  variable tiene una forma de onda cuadrada con una amplitud de `10 V_{pp}`,
  para cada uno de los diodos solicitados (1N4001 y 1N4148). Varíe la
  frecuencia de la fuente al menos 10 veces en el rango entre
  10 Hz y 100 KHz. 

* A partir de la simulación anterior obtenga y organice los tiempos de
  recuperación inversa, es decir, los tiempos que tarda la corriente en tender
  a 0 A cuando el diodo se polariza en inverso. 

* Comparando los resultados de cada diodo a diferentes frecuencias, ¿éstos
  cambian en función de la frecuencia del generador?. Según la teoría, ¿éstos
  deberían cambiar?. 

* Ahora, revise los valores encontrados en las hojas de datos de los diodos y
  conteste: ¿Los tiempos de recuperación inversa concuerdan con los valores
  suministrados por el fabricante?. Si no concuerdan, ¿a qué se debe este
  fenómeno?.

* Elija uno de los diodos e implemente el mismo circuito pero esta vez cambie
  la resistencia R1 con una de `500 \Omega`. Haga mediciones a distintas
  frecuencias y compare la respuesta de este circuito con el anterior. 

* Según lo observado, ¿qué pasa con el tiempo de recuperación inversa si se
  varía la resistencia `R_1`? ¿El tiempo de caída y/o el tiempo de
  almacenamiento se ven modificados?.

Preguntas sugeridas
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Estas preguntas deben ser contestadas al final del procedimiento. Algunas
requieren una consulta previa para ser aclaradas. Deben aparecer en una sección
adicional, al final del informe. Adicionalmente, el docente puede realizarlas
terminada la práctica en el laboratorio y deben ser contestadas por cada grupo.


* En el circuito de la Figura :numref:`lab2-cir-caracterizacion-diodo`, ¿Qué
  ocurre con la resistencia cuando circula la corriente máxima (con la fuente
  en 30 V)?

* ¿Qué cambio obtuvo al variar la temperatura en el diodo? ¿Este cambio era
  predecible? Justifique su respuesta.

* Según el modelo ideal del diodo (Vd=0), ¿Cómo considera que el diodo funciona
  ante bajas temperaturas? ¿Más o menos cerca del comportamiento ideal?
  Justifique su respuesta. 

* ¿Cuáles son las consecuencias de cambiar de polaridad la fuente que alimenta
  el circuito de la Figura :numref:`lab2-cir-caracterizacion-diodo`? ¿En este
  caso, se debe tener alguna restricción en la tensión para el correcto
  funcionamiento del diodo?

* ¿Por qué es necesario alimentar el circuito de la Figura
  :numref:`lab2-cir-visualizacion-tiempo-recuperacion` con una señal cuadrada?

* ¿Qué pasa con los tiempos de recuperación inversa si se varía la resistencia
  `R_1`?

* ¿Los tiempos de recuperación inversa concuerdan con los valores suministrados
  por el fabricante? ¿Si no concuerdan, a qué se debe este fenómeno?

Evaluación
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Se evaluará el trabajo realizado durante la práctica y previo a esta de acuerdo
con los criterios que defina el docente.

Referencias
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Para el desarrollo de este práctica se sugiere consultar:

* Manuales y Hojas de Datos de los equipos de laboratorio, url: https://sites.google.com/view/laboratorio-diee/recursos/manuales-de-equipos
* A. S. Sedra y K. C. Smith, Microelectronic Circuits Revised Edition, 5ta ed, Oxford University Press, Inc., 2007.
* D. Neamen, Microelectronics: Circuit Analysis and Design, 4ta ed, McGraw-Hill Higher Education, 2009.
* Qucs_S, simulador de circuitos, url: https://ra3xdh.github.io/
* CircuitJS, url: https://www.falstad.com/circuit/circuitjs.html
